Инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L300 наиболее востребован на производстве полупроводников, жидкокристаллических панелей и солнечных батарей.
Микроскоп выпускается в двух модификациях.
1. Eclipse L300A ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, ДИК и поляризованном свете (для работы только в отраженном свете).
Характеристики:
2. Eclipse L300ND ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, методом ДИК и в поляризованном свете (для работы в отраженном и проходящем свете).
Характеристика:
Микроскоп Eclipse L300 предназначен для контроля полупроводниковых пластин, печатных плат, фотошаблонов, сеток, трафаретов и различных подложек.
Благодаря высокой степени автоматизации микроскопа Eclipse L300 значительно сокращается время на исследование одного образца, что в итоге значительно увеличивает производительность.
Специально разработанная линейка универсальных план флюорит объективов с высокими числовыми апертурами обеспечивают потрясающе четкие и высококонтрастные изображения с минимумом засветок, при больших рабочих расстояниях.
Благодаря разработке новой линейки объективов с использованием линзы Френеля для работы на сверхбольших расстояниях, удалось значительно увеличить рабочее расстояние, при этом парфокальное расстояние стало меньше, размеры и вес объективов также уменьшились.
Многолетний опыт и тесное сотрудничество со специалистами в разных областях промышленности помогли разработать удобную и эргономичную модульную конструкцию микроскопа. Специальное антистатическое покрытие предотвращает попадание инородных частиц на образец.
Механизм управления предметным столом для прецизионного перемещения по осям XY расположен так, что позволяет управлять перемещением стола и фокусировкой микроскопа одной рукой.
Разница между микроскопами Eclipse L300 и Eclipse L200 только в размерах предметного стола и, как следствие, в возможности проводить инспекцию пластин большей площади.
Nikon Eclipse L300 ‑ это необходимый инструмент для контроля качества полупроводниковых пластин.