Описание:

Впервые в сканирующем зондовом микроскопе используется атомно-силовой метод с частотной модуляцией, а не с амплитудной, как у большинства аналогичных приборов.Использование данного метода позволяет существенно уменьшить шумы (до 1/20 шумов приборов с амплитудной модуляцией). Уровень шумов составляет всего: 20 фм/√Гц! Новый дизайн головки существенно снижает температурный дрейф и составляет  всего 1 нм/мин!

Благодаря этому с помощью микроскопа SPM-8000FM можно исследовать образцы
на воздухе и в жидкостях в качестве сопоставимом с приборами, работающими только в вакууме! Впервые становится возможным наблюдения гидратации / сольватации слоев на границе раздела твердой и жидкой фаз (с возможностью построения 3D-изображений процесса)!

Область применения:

исследования формы и локальных свойств поверхности твердого тела