Crossbeam — система интеграции колонны сфокусированного ионного пучка (FIB), обеспечивающего структурирование в наномасштабе, с высокоразрешающей технологией СЭМ в единую рабочую станцию, использующуюся для мониторинга процессов препарирования и декомпозиции в наномасштабе. Такая я система Crossbeam обеспечивает исследования с высоким разрешением и непосредственное управление процессом препарирования FIB в режиме реального времени. Эта концепция позволяет изготавливать образцы для СЭМ и поперечные сечения с наноразмерной точностью.
Crossbeam — экономичный интерактивный режим, когда образец визуализируется в процессе «нарезки» и шлифования. В результате время, необходимое для инспекции каждого поперечного сечения, сводится к минимуму.
Система Crossbeam позволяет ускорить томографию и использовать большие токи с сохранением превосходного профиля пятна. Это возможно благодаря концепции модульной платформы, применения передовых технологий и гибкой архитектуры программного обеспечения, уникальных решений для подготовки высококачественных, заряженных или намагниченных образцов.
Система Crossbeam сочетает высокую производительность визуализации и анализа легендарной электронной колонны (SEM) GEMINI и высококачественную способность к обработке ионной колонны (FIB), что позволяет создавать законченную рабочую 3D-станцию обработки и исследования наноразмерных объектов.
Система Crossbeam реализуема на электронных микроскопах с электронной колонной GEMINI или GEMINI II с возможностью доплнительного монтажа ионной колонны: SIGMA, AURIGA, MERLIN.
С использованием системы Crossbeam Вы можете совмещать превосходную производительность низковольтной электронной колонны GEMINI с колонной FIB с токами до 100 нА. Многообразие детекторов, высокое разрешение колонны SEM при различных условиях анализа и возможность одновременного нарезания и визуализации позволяет получать максимум информации в наикратчайший отрезок времени. Благодаря технологии GEMINI можно исследовать большие поверхности с разрешением более 50 000 × 40 000 пикселей.
Система Crossbeam разработана для сохранения максимальной стабильности при проведении длительных экспериментов. Электронная и ионная колонны обеспечивают однородные пучки в течении длительного временного интервала. Благодаря дизайну линз колонны GEMINI вы получаете большое преимущество в разрешении при визуализации и резке. Также имеется возможность изменения в режиме реального времени таких системных параметров, как ускоряющее напряжение и ток пучка.
Одновременное детектирование четырех сигналов c разных детекторов | Возможность изменения тока зонда и ускоряющего напряжения без настройки изображения |
Гибкие технологии
Рабочая станция Crossbeam может быть подобрана для Ваших индивидуальных задач непосредственно сейчас или впоследствии. Вы можете легко дополнить и усовершенствовать рабочую станцию благодаря модульной системе. Можно сконфигурировать систему Crossbeam для in situ экспериментов: исследование на сжатие–растяжение, масс-спектрометрия вторичных ионов, криогенное охлаждение или нагрев.
Открытый программируемый интерфейс (API) предоставляет доступ к любому параметру микроскопа. Имеется возможность построения индивидуальной последовательности операций над образцом в целях автоматизации исследования, сведя к минимуму действия пользователя.
Рассчитывая на передовые технологии, используемые в системе Crossbeam можно ускорить такие ресурсоемкие 3D-приложения, как томография, 3D-анализ и подготовка пластинок для ПЭМ.
Построение трехмерного объемаобразца Nd2Fe14B (Fe Kα, красный; O Kα, синий; Pr Lα,желтый). В правом нижнем изображении представлены фазовые переходы Fe, Pr, Nd. Фаза железа выделена зеленым цветом | Построение трехмерной древовидной структуры эвтектического сплава Al-Cu на основе изображений с осевого EsB детектора |
Компоненты
Ваши возможности могут быть расширены в зависимости от растущих требований к многомодельной визуализации. Для индивидуальных целей и задач Вы можете выбрать следующие компоненты ренгеноспектрального анализа, электронной и ионной микроскопии:
Система Crossbeam базируется на автоэмиссионном сканирующем электронном микроскопе (АЭСЭМ или FE-SEM) с камерой, совместимой с ионной колонной (FIB). На этой основе можно собрать и сконфигурировать станцию Crossbeam под Ваши индивидуальные цели и задачи. Колонна АЭСЭМ разрабатывается по проверенной технологии GEMINI. В отличие от других колонн АЭСЭМ, GEMINI не подвергает образец воздействию магнитным полем, поэтому любые намагниченные образцы могут быть визуализированы.
Вы можете удвоить скорость применения FIB и SEM при 3D-визуализации с использованием сильного тока галлиевого ионного пучка. Дизайн колонны дает Вам возможность работы при 5 различных значениях тока пучка. Наибольшее значение тока (выше 100 нА) позволяет быстро и точно удалять частицы с поверхности или резать образцы. Кроме этого, колонна превосходно работает при малых токах, обеспечивая наименьшим размером пятна (менее 3 нм при 1 пА). Вы получаете высокое разрешение при разных ускоряющих напряжениях, что дает возможность превосходно полировать тонкие слои, сводя к минимуму аморфные покрытия на поверхности.
Характеристики |
ZEISS Crossbeam 340 | ZEISS Crossbeam 540 | |
Визуализация (SEM) | Источник | Автоэмиссионный типа Шоттки | Автоэмиссионный типа Шоттки |
Разрешение | 1,9 нм при 1 кВ; 1,0 нм при 15 кВ; 0,9 нм при 30 кВ |
1,8 нм при 1 кВ; 0,9 нм при 15 кВ; 0,7 нм при 30 кВ |
|
Ток пучка | 5 пА – 100 нА | 10 пА – 300 нА | |
Ga ионная колонна (FIB) |
Ресурс | 3000 мкАч | 3000 мкАч |
Разрешение | <3 нм (статистический метод) | <3 нм (статистический метод) | |
Ток пучка | 1 пА – 100 нА | 1 пА – 100 нА | |
Детекторы |
Inlens SE, Inlens Duo, ETD, SESI, STEM, BSD, CL | Inlens SE, EsB, ETD, SESI, STEM, BSD, CL | |
Столик | Перемещения по осям | X=100 мм; Y=100 мм; Z=50мм; Z’=13 мм |
X=100 мм; Y=100 мм; Z=50мм; Z’=13 мм |
Наклон/ вращение |
T=-4º ; R=360º | T=-4º ; R=360º | |
Вакуумная система | Компенсация заряда | Компенсация заряда | |
Система подачи газов (GIS) | Однородная: Pt, C; Смешанная: Pt, C, W, Au, H2O, I2, SiOx, XeF2 |
Однородная: Pt, C; Смешанная: Pt, C, W, Au, H2O, I2, SiOx, XeF2 |
|
Область сканирования | 32 000×24 000 (до 50 000×40 000 c ATLAS 3D) | 32 000×24 000 (до 50 000×40 000 c ATLAS 3D) | |
Детекторы | EDS, EBSD, WDS, SIMS | EDS, EBSD, WDS, SIMS | |
Преимущества | Наибольшее разнообразие образцов благодаря режиму VP, большое разнообразие in situ экспериментов, возможность последовательной SE/EsB визуализации | Высокая производительность при анализе и визуализации, максимальная простота в использовании, высокое разрешение при любых условиях, раздельная Se и EsB визуализация. |